SNVM (走査型NVセンタープローブ顕微鏡)

CIQTEK SNVM (Scanning Nitrogen-vacancy Probe Microscope) は、ダイヤモンド NV センターと AFM のイメージング技術を統合した、先進の計測機器/分析装置です。
ダイヤモンドNVセンター搭載の量子プローブによって可能になった磁気イメージング技術により、高い空間分解能と優れた感度での磁場測定が可能になります。スピントロニクス、マルチフェロイック、2D 磁性材料、超伝導体などの研究で用いられています。

常温タイプの「Ambient Version」と極低温タイプの「Cryogenic Version」があります。

NV Probe

Scanning NV probe with arrays of nanopillars or with single pillar
Count rates:≧300kc/s
Contrast:≧20%

Specifications	Ambient Ver.	Cryogenic Ver.
Magnetic Sensitivity	≤ 2 μT/√Hz	≤ 5 μT/√Hz
Spatial Resolution	10-30 nm	10-30 nm
Operating Temperature	300 K	2K～300K
Magnet Options	0-50mT	9/1/1 T

Featured Functions: ISO-B Mode,Dual-B Mode,Full-B Mode,AFM Mode,
MFM Mode,CFM Mode

Options:Cryogenic High-Pressure Optically Detected Magnetic Resonance(ODMR)

Scan Range	300×300μm
Pressure	≧30GPa
Magnetic Sensitivity	≦35μT/Hz
Spatial Resolution	500nm
Refrigeration Method	Cryogenic 1.5W@4K
Temperature Range	2K~300K
Tempetature Resolution	±50mK

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SNVM アプリケーション

走査型NVセンタープローブ顕微鏡（SNVM）分光計は、ダイヤモンドにおけるNVセンターとAFM走査イメージング技術の双方に基づく量子精密測定機器です。プローブのNVセンターにおける量子制御とスピンの読み出しにより、サンプルの磁気特性イメージングが定量的かつ非侵襲で測定できます。ナノスケールの高空間分解能とシングルスピン超高検出感度を備えたSNVMは、高密度磁気ストレージ、スピントロニクス、および量子技術アプリケーションを開発および研究するための革新的なテクノロジーです。